重慶冷熱沖擊試驗箱用于測試其材料在瞬間下經(jīng)過(guò)*溫和極低溫的連續環(huán)境下所能承受的程度,藉以在zui短時(shí)間內試驗其因高、低溫的反復抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害,可確認產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機械的組件,無(wú)一不需要它的理想測試工具.
超快速冷熱沖擊試驗機適用于各類(lèi)半導體芯片、閃存Flash/EMMC、PCB 電路板IC、光通訊(如收發(fā)器 transceiver 高低溫測試、SFP 光模塊高低溫測試等)、電子行業(yè)等進(jìn)行IC 特性分析、高低溫循環(huán)測試、溫度沖擊測試、失效分析等可靠性試驗。
高速低溫氣流沖擊試驗機適用于各類(lèi)半導體芯片、閃存Flash/EMMC、PCB 電路板IC、光通訊(如收發(fā)器 transceiver 高低溫測試、SFP 光模塊高低溫測試等)、電子行業(yè)等進(jìn)行IC 特性分析、高低溫循環(huán)測試、溫度沖擊測試、失效分析等可靠性試驗。