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快速高低溫沖擊試驗機又叫熱流儀,氣壓沖擊試驗機等,適用于光通訊(如收發(fā)器 transceiver 高低溫測試、SFP 光模塊高低溫測試等)、各類(lèi)半導體芯片、閃存Flash/EMMC、PCB 電路板IC、電子行業(yè)等進(jìn)行IC 特性分析、溫度沖擊測試、高低溫循環(huán)測試、失效分析等可靠性試驗的設備。
熱流儀工作原理適用于各類(lèi)半導體芯片、閃存Flash/EMMC、PCB 電路板IC、光通訊(如收發(fā)器 transceiver 高低溫測試、SFP 光模塊高低溫測試等)、電子行業(yè)等進(jìn)行IC 特性分析、高低溫循環(huán)測試、溫度沖擊測試、失效分析等可靠性試驗。
超快速冷熱沖擊熱流儀適用于各類(lèi)半導體芯片、閃存Flash/EMMC、PCB 電路板IC、光通訊(如收發(fā)器 transceiver 高低溫測試、SFP 光模塊高低溫測試等)、電子行業(yè)等進(jìn)行IC 特性分析、高低溫循環(huán)測試、溫度沖擊測試、失效分析等可靠性試驗。
超快速高低溫氣流沖擊試驗機適用于各類(lèi)閃存Flash/EMMC、PCB 電路板IC、光通訊(如收發(fā)器 transceiver 高低溫測試、SFP 光模塊高低溫測試等)、半導體芯片、電子行業(yè)等進(jìn)行IC 特性分析、溫度沖擊測試、高低溫循環(huán)測試失效分析等可靠性試驗。
超高速高低溫氣流沖擊試驗機可針對眾多元器件中的某一單個(gè)IC或其它元件,將其隔離出來(lái)單獨進(jìn)行高低溫沖擊,而不影響周邊其它器件,與傳統冷熱沖擊試驗箱相比,溫變變化沖擊速率更快。